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Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Porcelana Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited certificaciones
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Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing
Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Ampliación de imagen :  Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Datos del producto:
Lugar de origen: PORCELANA
Nombre de la marca: Pego Electronics
Certificación: Third-Lab Calibration Certificate
Número de modelo: PG-TPB
Pago y Envío Términos:
Cantidad de orden mínima: 1 set
Precio: Negociable
Detalles de empaquetado: caja de protección + cartón
Tiempo de entrega: 3 días hábiles
Condiciones de pago: T/t, PayPal
Capacidad de la fuente: 1000pc/mes
Descripción detallada del producto
Estándar de conformidad con: El uso de la tecnología de la Unión Europea para la fabricación de vehículos eléctricos no está proh Material: material aislante (manilla) y metal (dedo)
Tiempo de entrega: 3 días hábiles Solicitud: para verificar el acceso a las partes peligrosas
Tipo: sonda de acceso Propulsor: No más de 50 N
Resaltar:

30±0.2 Jointed Point Test Finger Probe

,

80±0.2 Length Standard Test Finger

,

180±0.2 Fingertip to Baffle Jointed Test Finger

Insulating Material Standard Test Finger for Accessibility Test Thruster 0N-50N
Standard Test Finger for Accessibility Test
Introduction
The Standard Test Finger, also known as jointed test finger or test probe B, simulates human fingers to verify accessibility to hazardous parts in electrical and electronic devices. This essential testing tool is widely referenced in standards including IEC60335-1, IEC62368-1, and IEC60598-1.
Designed in strict compliance with IEC61032 Figure 2, the probe features an insulating handle and metal finger. The built-in 0-50N thruster accommodates required test forces of 10N and 30N. An integrated wire connects to an electrical indicator to detect accessibility of hazardous live parts.
Specification
Model PG-TPB
Jointed point size 1 30±0.2
Jointed point size 2 60±0.2
Length of finger 80±0.2
Fingertip to baffle size 180±0.2
Fingertip taper fillet S4±0.05
Diameter of finger Ф12 0 -0.05
Diameter of baffle Ф75±0.2
Thickness of baffle 5±0.5
A-A section diameter Ф50
A-A section width Ф20±0.2
Thruster 10N optional
Standard IEC61032
Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing 0

Contacto
Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited

Persona de Contacto: Ms. Penny Peng

Teléfono: +86-18979554054

Fax: 86--4008266163-29929

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